導入の背景と課題
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微細欠陥の見逃し
0.1mm級の微細なキズ・変色を目視で検出する精度に限界。検査員の疲労による見逃しリスク
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全数検査の工数
全数を目視検査する必要があり、検査工程がボトルネックに
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判定基準のバラつき
「許容できるキズ」の判断が検査員によって異なる
システム構成
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 検査対象 | 産業機器のスクリーン（ガラス/樹脂面） |
| 検出内容 | キズ（線状・点状）、変色、異物付着、コーティング不良 |
| 検出精度 | 0.1mm以上の欠陥を検出 |
| 使用技術 | ルールベース（微細欠陥検出）+ VLM（分類・判定理由の記述） |
| 照明 | 同軸落射照明＋暗視野照明の2系統 |
成果
🔬
0.1mm〜 微細検出
高解像度カメラ＋最適照明で微細な損傷も確実に検出
🤖
全数検査を自動化
検査工程のボトルネックを解消。検査員の負荷を大幅軽減
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欠陥分類の自動化
VLMが欠陥の種類と位置を自然言語で記述。品質記録の自動生成
照明設計のポイント
ガラス面のキズ検出では照明方式が精度を決定的に左右します。同軸落射照明で面全体の均一性を確保し、暗視野照明で微細なキズのコントラストを最大化する2系統照明で対応。
ソリューション詳細
多品種外観検査AI｜VLMで学習コストを削減