不良サンプル不足を解決する|AI外観検査のデータ戦略
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不良サンプル不足を解決する|AI外観検査のデータ戦略

不良サンプルが足りない製造現場でAI外観検査を導入するためのデータ戦略。蓄積・生成・設計の3アプローチ。

不良サンプル不足は構造的な問題 ── 現場の怠慢ではない

製造業においてNG画像が足りないのは、品質管理が優秀な工場ほど深刻な問題です。不良率を下げるために努力してきた結果、不良品の絶対数が減り、AI学習に必要なデータが集まらない。皮肉な構造ですが、これが現実です。

不良率0.01%(PPMレベル)の工場では、100万個生産して不良は100個。そこから不良モード別に分類すると、1パターンあたり数枚〜十数枚しかありません。「NG画像を集めてください」と言われても、集められないのが実情です。

3つのアプローチで解決する

アプローチ1:データを集める(蓄積戦略)

不良品が発生したら確実に画像を残す仕組みを作ります。

蓄積戦略は時間がかかりますが、最も品質の高い学習データが得られます。本番稼働後は自動的にデータが蓄積される仕組みを作っておくことが重要です。

アプローチ2:データを作る(生成戦略)

アプローチ3:データなしで動く仕組みを作る(設計戦略)

3つのアプローチの組み合わせ方

フェーズ蓄積戦略生成戦略設計戦略
導入初期(〜1ヶ月)自動撮影の仕組み構築VLMで仮想NG画像生成良品学習+ハイブリッド構成
運用期(1〜3ヶ月)実NG画像の蓄積開始合成比率を段階的に削減AI対象の検査項目を拡大
安定期(3ヶ月〜)実データが主体に移行GANで稀な不良モードを補完全検査項目をAI化

Nsightの推奨戦略

上記3つのアプローチを段階的に組み合わせます。導入初期は「アプローチ3(設計戦略)+アプローチ2(VLMによる生成)」でスタートし、本番稼働後に「アプローチ1(蓄積)」で実データを増やしていきます。重要なのは「データが揃うまで待つ」のではなく「今あるデータで始める」こと。待っている間にも検査員は高齢化し、人手不足は進みます。

まとめ

不良サンプル不足はAI外観検査の最大の壁ですが、蓄積・生成・設計の3つの戦略を組み合わせることで解決できます。完璧なデータが揃うのを待つ必要はありません。VLMによるNG画像自動生成とハイブリッド検査構成で「今日から始められる」のが、現在のAI外観検査の到達点です。

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監修:嶋野(元キーエンス画像処理部門 開発)

キーエンス画像処理部門での実務経験をもとに、製造業の外観検査・画像処理に関する技術監修を行っている。会社概要 →

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